◆ 微型化設(shè)計(jì),適合SEM、AFM、X射線衍射儀等空間有限的環(huán)境下使用;
◆ 可進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲、剪切、蠕變、松弛等測(cè)試;
◆ 實(shí)現(xiàn)原位作動(dòng),對(duì)稱加載實(shí)現(xiàn)樣品中心靜止,便于原位觀測(cè);
◆ 測(cè)試范圍廣,標(biāo)配大、小傳感器,可應(yīng)用于軟材料、薄膜材料、生物材料、高分子材料等多種材料、適用范圍更廣;
◆ 多種夾具、附件可供選擇。
◆ 配合光學(xué)顯微鏡、X射線衍射儀等微觀觀測(cè)設(shè)備,實(shí)現(xiàn)材料在加載過(guò)程中微觀組織演化規(guī)律的在線表征;
◆ 可實(shí)現(xiàn)單軸獨(dú)立測(cè)試,也可以實(shí)現(xiàn)雙軸比例、非比例加載測(cè)試;
◆ 可增加水浴環(huán)境,可測(cè)試材料(如水浴、腐蝕環(huán)境)下的雙軸力學(xué)性能測(cè)試;
◆ 選配視頻引伸計(jì),實(shí)現(xiàn)雙軸應(yīng)變的非接觸測(cè)量;
◆ 配合自主開(kāi)發(fā)的專業(yè)軟件,實(shí)現(xiàn)雙軸同步拉伸、循環(huán)、異步加載等其他試驗(yàn)方案。
技術(shù)參數(shù):
加載頻率0-1Hz
位移分辨率:0.1μm
位移測(cè)量范圍:0-150mm
版權(quán)所有 © 2024 凱爾測(cè)控試驗(yàn)系統(tǒng)(天津)有限公司 備案號(hào):津ICP備18003419號(hào)-2 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 GoogleSitemap